X射線衍射法是一種利用單色X射線光束照射到一顆晶體或眾多隨機取向的微小晶體來測量樣品分子三維立體結(jié)構(gòu)或特征X射線衍射圖譜的檢測分析方法。

　　

　　X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結(jié)構(gòu)參數(shù)分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數(shù)測定（晶體結(jié)構(gòu)分析）、多晶X-射線衍射的指標(biāo)化以及晶粒尺寸和結(jié)晶度的測定等。可地測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，如：物相定性與定量分析，衍射譜的指標(biāo)化及點陣參數(shù)。

　　

　　X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，主要部件包括4部分。

　　

　?。?）高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。

　　

　?。?）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。

　　

　?。?）射線檢測器檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。

　　

　　（4）衍射圖的處理分析系統(tǒng)現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng),它們的特點是自動化和智能化。

　　

　　應(yīng)用范圍：

　　

　　對材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析，大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析；晶體物質(zhì)晶粒大小的計算；晶體物質(zhì)結(jié)晶度的計算等。