CHS-1型硅鋼片鐵損儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介

愛(ài)潑斯坦方圈法實(shí)驗(yàn)裝置是廣泛地用作測(cè)量硅鋼片鐵損的標(biāo)準(zhǔn)方法，但它要求制備特定的實(shí)驗(yàn)樣品，被測(cè)硅鋼片被破壞，并要耗費(fèi)大量的時(shí)間。CHS-1型硅鋼片鐵損儀是軛鐵型實(shí)驗(yàn)器相對(duì)愛(ài)潑斯坦法有很大的優(yōu)點(diǎn)，它能提供每公斤單張樣品的鐵損的直讀值，省時(shí)省力并且不破壞樣品。

本儀器可對(duì)冷軋，熱軋硅鋼片的鐵損值做直觀(guān)定量測(cè)量，可做產(chǎn)品出廠(chǎng)或進(jìn)廠(chǎng)檢驗(yàn)，可以靈活地研究硅鋼每點(diǎn)的性能，作改進(jìn)工藝流程之用，或區(qū)分硅鋼片的種類(lèi)。

CHS-1型硅鋼片鐵損儀工作原理：

50Hz振蕩器產(chǎn)生50Hz正弦波信號(hào)，經(jīng)過(guò)電壓控制線(xiàn)性可變電阻G，控制功率放大的輸出電流，無(wú)論在1.7T或1.0T的磁感強(qiáng)度下，探頭N2的電壓波形都是正弦波。無(wú)需做波形修正，通過(guò)被測(cè)樣品，使磁路閉合，在N2上感應(yīng)出的正弦電壓被放大，在磁通密度B的予置值與片厚予置值的控制下，這個(gè)被放大后的電壓，一方面被整流濾波后與參考電壓比較，其差值控制線(xiàn)性可變電阻以保證磁通密度的予置值，與另一路流過(guò)N1的電流在R取樣后，經(jīng)H路放大后的H波相乘，乘積經(jīng)濾波與密度修正用DPM直接示出相對(duì)應(yīng)的鐵損值。

技術(shù)參數(shù)：

量      限：20W/kg以下

磁通密度：1.0T,1.5T,1.7T

試樣厚度：0.05~0.99mm

樣品種類(lèi)：冷軋晶粒取向硅鋼片

冷軋非晶粒取向硅鋼片

熱軋硅鋼片

測(cè)量頻率：50Hz

誤      差：5%

電      源：AC 220V(1±10%) ，50Hz

機(jī)箱尺寸：300×360×140mm

使用環(huán)境溫度：5℃-40℃

硅鋼單片鐵損儀注意事項(xiàng)：

1.如果試樣表面不平，測(cè)量將會(huì)帶來(lái)誤差。

2.一般測(cè)量時(shí)，將探頭放在表面平整的試樣上，靠探頭本身的重量，不要用力按壓探頭。

3.被測(cè)量樣品要求寬度大于40mm，如果小于40mm測(cè)量值趨向大于實(shí)際值。

4.探頭要避免猛烈的碰撞。

5.隨機(jī)所帶三片鋼片為參考片。若在運(yùn)輸過(guò)程中，所帶鋼片未因重大震動(dòng)而聚集應(yīng)力時(shí)，則儀器在測(cè)試這三片鋼片性能所得數(shù)值應(yīng)與片上所標(biāo)數(shù)值相差在5%以?xún)?nèi)。

6.測(cè)試參考片時(shí)，應(yīng)注意片上所標(biāo)類(lèi)別，厚度，密度等參數(shù)。樣品應(yīng)放在平滑的木桌上測(cè)試，探頭應(yīng)對(duì)準(zhǔn)所畫(huà)框的中心，即探頭四邊與所畫(huà)四邊相距對(duì)稱(chēng)，且都落在框內(nèi)，不加任何外力。